兆易創新 MCU BU 市場部(bu)部(bu)門高級經(jing)理(li)柯(ke)亞軍先生跟(gen)我們分(fen)享了(le)基(ji)于 GD32H7 系(xi)列(lie)高性(xing)能(neng) MCU 的(de)(de)直流拉弧(hu)檢測方案(an)。GD MCU的(de)(de)數字能(neng)源戰略，包括產品、解決方案(an)、生態協(xie)同三個大塊。今天的(de)(de)匯(hui)報以其中(zhong)一個解決方案(an)——AFCI：基(ji)于AI算法的(de)(de)拉弧(hu)檢測為主(zhu)。

首先(xian)柯先(xian)生介紹了光(guang)伏(fu)(fu)系統中(zhong)(zhong)的(de)電弧(hu)現象。在(zai)光(guang)伏(fu)(fu)系統中(zhong)(zhong)，接(jie)(jie)點松脫(tuo)、接(jie)(jie)觸不(bu)良、接(jie)(jie)線(xian)(xian)斷裂、絕緣(yuan)材料(liao)老(lao)化(hua)、碳化(hua)、電線(xian)(xian)受潮、腐蝕、絕緣(yuan)材料(liao)破損等原因都可(ke)能(neng)產生電弧(hu)。由于(yu)光(guang)伏(fu)(fu)系統直流(liu)(liu)側接(jie)(jie)線(xian)(xian)端子很(hen)多(duo)，發(fa)生電弧(hu)危害的(de)可(ke)能(neng)性較高。因直流(liu)(liu)電弧(hu)不(bu)存在(zai)過零點，一(yi)旦產生就會持續(xu)燃燒，很(hen)難熄滅，極易造成火災事故。

基于此，他提(ti)出了(le)AFCI技術(shu)并闡(chan)釋了(le)其(qi)技術(shu)原理。電弧(hu)(hu)模(mo)型(xing)是(shi)(shi)一(yi)個時(shi)變非線性模(mo)型(xing)，電弧(hu)(hu)信號類(lei)似于白噪聲信號，其(qi)能(neng)量(liang)在所有頻(pin)(pin)譜(pu)上幾乎都有分布，表(biao)現為不同頻(pin)(pin)段(duan)能(neng)量(liang)的抬升。根(gen)據描述電弧(hu)(hu)特征信號能(neng)量(liang)與電弧(hu)(hu)電流和長度的關(guan)系示意圖，有無電弧(hu)(hu)的系統，頻(pin)(pin)譜(pu)存(cun)在明(ming)顯差異，意味著(zhu)可通過監測系統中的電學(xue)參數及其(qi)頻(pin)(pin)譜(pu)變化判斷電路中是(shi)(shi)否(fou)有電弧(hu)(hu)產(chan)生。

該(gai)AI方案具(ju)有如下(xia)特點：自(zi)動化(hua)和(he)(he)(he)效率(lv)、準(zhun)確性(xing)和(he)(he)(he)細致(zhi)性(xing)、迭代性(xing)、持(chi)續性(xing)學習、適(shi)應性(xing)和(he)(he)(he)靈(ling)活性(xing)。產品(pin)還配置了(le)(le)強大的(de)算法團隊(dui)。柯先生分(fen)享了(le)(le)產品(pin)硬(ying)(ying)件層面的(de)系統(tong)連接、硬(ying)(ying)件概覽和(he)(he)(he)硬(ying)(ying)件框圖(tu)，還有軟件層面的(de)AFCI流程、數(shu)據(ju)采集、數(shu)據(ju)分(fen)析、基于GD32H757的(de)ADC通(tong)道(dao)(dao)數(shu)、推理時間和(he)(he)(he)最大支(zhi)持(chi)通(tong)道(dao)(dao)數(shu)、算法特征、測試(shi)模型、修改(gai)閾值、整體通(tong)訊架構等(deng)多個示意圖(tu)。